《科創(chuàng)板日報(bào)》13日訊，微型LED是下一代高端顯示技術(shù)的核心元件，搭載微型LED的晶圓必須達(dá)到100%的良率，否則將會給終端產(chǎn)品造成巨大的修復(fù)成本。然而，業(yè)界卻一直沒有找到晶圓接觸式無損檢測的好方法。近日，我國科研人員用“以柔克剛”的方式填補(bǔ)了這一技術(shù)空白。天津大學(xué)精密測試技術(shù)及儀器全國重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室、精儀學(xué)院感知科學(xué)與工程系黃顯教授團(tuán)隊(duì)打破了微型LED晶圓測試瓶頸，實(shí)現(xiàn)了微型LED晶圓高通量無損測試，研究成果于13日在國際學(xué)術(shù)期刊《自然-電子學(xué)》刊發(fā)。